ED400渦流測厚儀
ED400渦流測厚儀是ED300渦流測厚儀的改進型，儀器性能大幅度提高。
儀器適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁材料、鋁工件表面的陽極氧化膜或涂層厚度，以及其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。采用磁性測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體（如：鋼、鐵、鎳）上非磁性覆層的厚度（如：鍍鋅、鉻、油漆、電泳、琺瑯、橡膠、粉未、搪瓷、防腐層等），本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造、金屬加工、化工、商檢等檢測領(lǐng)域。
沈陽天星ED400適于在生產(chǎn)現(xiàn)場、銷售現(xiàn)場或施工現(xiàn)場對產(chǎn)品進行快速、無損的膜厚檢查，可用于生產(chǎn)檢驗、驗收檢驗和質(zhì)量監(jiān)督檢驗。
儀器符合國家標準GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流法》。
儀器特點
ED400渦流測厚儀與ED300型相比，具有如下特點：
＊量程寬 ED400量程達到0～500μm。
＊精度高 ED400型的測量精度達到2%。
＊分辨率高 ED400型的分辨率達到0.1μm。
＊校正簡便 只校正“0”和“50μm”兩點，即可在全量程范圍內(nèi)保證設(shè)計精度。
＊探頭線壽命長 采用德國進口的，在德國測厚儀上使用的探頭線，探頭線壽命可大大延長。
＊探頭芯壽命長 采用高強度磁芯材料，微調(diào)了探頭設(shè)計，探頭芯壽命可大大延長。
＊探頭可互換 外接式探頭，探頭損壞后，使用者可自行更換備用探頭。儀器無需返廠維修。
＊基體導電率影響小 基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時，測量誤差不大于1～2μm。
＊可靠性提高 采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件，電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化，儀器可靠性提高。
＊穩(wěn)定性提高 采用*溫度補償技術(shù)，測量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)場長期使用。
ED400渦流測厚儀技術(shù)參數(shù)
測量范圍： 0～500μm
測量精度： 0～50μm：±1μm；
50～500μm：±2%
分辨率： 0～50μm：0.1μm、
50～500μm：1μm；
0～500μm：1μm（可選）
使用溫度： 5～45℃
外形尺寸： 150mm×80mm×30mm
重 量： 260g
ED400渦流測厚儀配置與選配
| ED400標準配置 主機 1臺
探頭 1支
基體 1塊（6063合金）
校正箔片 1片（約50μm，附檢測報告）
使用說明書 1份
合格證 1份
保修單 1份
手提式儀器箱1個 | 可選附件 備用探頭
基體
校正箔片（約50μm，附檢測報告） |
影響的一些可能因素：
基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對進行校準；亦可用待涂覆試件進行校準。
基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對進行校準。
基體金屬厚度
每一種都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。
曲率
試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
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